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BY3650高壓開(kāi)關(guān)真空度測(cè)量?jī)x

真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法，這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí)，雖然擊穿電壓沒(méi)有降低，但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線圈，運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度，不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理，使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

更新時(shí)間：2024-05-09
NRIZK-V高壓開(kāi)關(guān)真空度測(cè)量?jī)x

真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法，這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí)，雖然擊穿電壓沒(méi)有降低，但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線圈，運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度，不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理，使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

更新時(shí)間：2024-05-09
HTZK-IV高壓開(kāi)關(guān)真空度測(cè)量?jī)x

真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法，這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí)，雖然擊穿電壓沒(méi)有降低，但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線圈，運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度，不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理，使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

更新時(shí)間：2024-05-09
DZK-H高壓開(kāi)關(guān)真空度測(cè)量?jī)x

真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法，這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí)，雖然擊穿電壓沒(méi)有降低，但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線圈，運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度，不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理，使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

更新時(shí)間：2024-05-09
ZK-Ⅳ高壓開(kāi)關(guān)真空度測(cè)量?jī)x

真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法，這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí)，雖然擊穿電壓沒(méi)有降低，但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線圈，運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度，不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理，使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

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HDZK-IV高壓開(kāi)關(guān)真空度測(cè)量?jī)x

真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法，這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí)，雖然擊穿電壓沒(méi)有降低，但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線圈，運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度，不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理，使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

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HSXZKD-H高壓開(kāi)關(guān)真空度測(cè)量?jī)x

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SX-3000高壓開(kāi)關(guān)真空度測(cè)量?jī)x

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WAZKZ-V高壓開(kāi)關(guān)真空度測(cè)量?jī)x

真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法，這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí)，雖然擊穿電壓沒(méi)有降低，但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線圈，運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度，不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理，使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

更新時(shí)間：2024-05-09
XJZK-III高壓開(kāi)關(guān)真空度測(cè)量?jī)x

真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法，這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí)，雖然擊穿電壓沒(méi)有降低，但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線圈，運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度，不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理，使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

更新時(shí)間：2024-05-09
YTC3991高壓開(kāi)關(guān)真空度測(cè)量?jī)x

真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法，這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí)，雖然擊穿電壓沒(méi)有降低，但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線圈，運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度，不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理，使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

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MHY-22180高壓開(kāi)關(guān)真空度測(cè)量?jī)x

真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法，這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí)，雖然擊穿電壓沒(méi)有降低，但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線圈，運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度，不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理，使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

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BLZKD高壓開(kāi)關(guān)真空度測(cè)量?jī)x

真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法，這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí)，雖然擊穿電壓沒(méi)有降低，但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線圈，運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度，不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理，使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

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LCZK36III高壓開(kāi)關(guān)真空度測(cè)量?jī)x

真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法，這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí)，雖然擊穿電壓沒(méi)有降低，但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線圈，運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度，不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理，使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

更新時(shí)間：2024-05-09
DVM-99高壓開(kāi)關(guān)真空度測(cè)量?jī)x

真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法，這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí)，雖然擊穿電壓沒(méi)有降低，但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線圈，運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度，不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理，使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

更新時(shí)間：2024-05-09
CJZKD高壓開(kāi)關(guān)真空度測(cè)量?jī)x

真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法，這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí)，雖然擊穿電壓沒(méi)有降低，但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線圈，運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度，不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理，使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

更新時(shí)間：2024-05-09
HMZK-2000高壓開(kāi)關(guān)真空度測(cè)量?jī)x

真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法，這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí)，雖然擊穿電壓沒(méi)有降低，但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線圈，運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度，不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理，使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

更新時(shí)間：2024-05-09
BS-2000 高壓開(kāi)關(guān)真空度測(cè)量?jī)x

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MS-208V高壓開(kāi)關(guān)真空度測(cè)量?jī)x

真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法，這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí)，雖然擊穿電壓沒(méi)有降低，但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線圈，運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度，不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理，使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

更新時(shí)間：2024-05-09
MVC-385高壓開(kāi)關(guān)真空度測(cè)量?jī)x

真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法，這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí)，雖然擊穿電壓沒(méi)有降低，但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線圈，運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度，不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理，使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

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